Виртуальная микроскопия в отражённом свете: новый взгляд на окаменелости

Исследователи из Департамента электротехники и вычислительной техники разработали новый метод цифрового захвата и отображения микроокаменелостей — Виртуальную микроскопию в отражённом свете (VRLM).

Как это работает:

  • Процесс начинается с получения серии цифровых изображений образца через микроскоп.
  • Каждое изображение снимается при разном положении источника света вокруг образца, что создаёт различные тени на его поверхности.
  • Из этих данных извлекается трёхмерная карта поверхности образца.
  • Полученное виртуальное изображение сопоставимо с просмотром реального образца: пользователи могут управлять углом, интенсивностью и типом света, а также просматривать образец в 3D с помощью 3D-очков.

Преимущества технологии:

  • «Обратная инженерия» формы: «Используя несколько изображений вместе, мы извлекаем форму образцов. И с этим мы получаем важные свойства, такие как отражательная способность поверхности», — объясняет аспирант Адам Харрисон.
  • Доступность и обмен: Технология может стать основой для массивной цифровой библиотеки образцов, доступной через веб-браузер, что устранит необходимость для исследователей путешествовать по мировым хранилищам.
  • Интуитивный интерфейс: Для взаимодействия с образцами был разработан простой в использовании Java-апплет.

Области применения:

  1. Геонауки: Ускорение идентификации микроокаменелостей, собранных в рамках таких проектов, как Integrated Ocean Drilling Program. Эти данные критически важны для изучения климата и разведки нефти и газа.
  2. Металлургия: Метод может записывать данные с любой непрозрачной поверхности, открывая потенциал для металлургических исследований.
  3. Образование и популяризация: Технология обладает большим потенциалом для просвещения публики благодаря своей интерактивной природе. Команда уже сотрудничает с Музеем естественной истории в Лондоне, получая образцы из его обширной коллекции.

Цель проекта, по словам профессора Дилипана Джозефа, — найти способы ускорить процесс идентификации образцов, и новая технология определённо приближает к этой цели.